Introduction
做完大学物理四级实验《薄膜制备与测试》后,李奇同学和我做了薄膜晶粒方向的调研,并在许小亮老师的指导下做了相关的特色实验,实验内容是“晶粒大小随工艺参数的变化”。
纳米金属颗粒薄膜的非线性光学研究,在国际上引起高度重视,这是因为入射光可在金属颗粒间产生的很强的表面等离子激元(SP) 共振增强效应。我们认为,经SP共振增强后的激光,可作为ZnO基纳米颗粒激光材料的激发光源。而颗粒尺寸是对SP增强效应有很大的影响,因此研究纳米颗粒尺寸的变化有着重要的意义。

Left: SNOM image of
percolation gold-glass film
Right: Local field-intensity distribution
for the same area
Experimental & Discussion
n
实验的各个参数如下:
组号
|
薄膜厚度
|
Ar气压
|
衬底温度
|
溅射功率
|
1
|
3nm~24nm
|
3.0Pa
|
200℃
|
约6.5w
|
2
|
12nm
|
0.5Pa~6.0Pa
|
200℃
|
约10w
|
3
|
12nm
|
3.0Pa
|
135 ℃~300 ℃
|
约6.5w
|
n
纳米金属颗粒膜的XRD图
l
四个峰分别对应于Au膜的(111),(200),(220)(311)面:

l
对(111)峰进行Lorentz拟合(右下图),可得衍射峰的半高宽B,从而由Scherrer公式计算晶粒大小。

n
晶粒尺寸随厚度的变化
根据XRD图,由Scherrer公式:D=0.94λ/B cosθ可以计算晶粒直径,列表如下:
9#
|
3
|
2 3590
|
3.5593
|
8#
|
6
|
1.1239
|
7.4777
|
7#
|
12
|
0.6042
|
13.9122
|
14#
|
24
|
0.5228
|
16.0843
|
n
不同厚度下的Au膜AFM图:


n
晶粒在团簇的基础上呈柱状生长,在薄膜较薄的情况下,晶粒的大小与薄膜厚度相当,当薄膜厚度增加时,晶粒大小便会相应地增加。

n
晶粒尺寸随Ar气压的变化:
|
工作气压/Pa
|
D/nm
|
B/(º)
|
5#
|
0.5
|
11.7831
|
0.7135
|
3#
|
1.0
|
13.7874
|
0.6012
|
1#
|
3.0
|
14.7547
|
0.5697
|
4#
|
6.0
|
13.0275
|
0.6451
|
n
晶粒大小随Ar气压的变化主要受两个相互制约的因素影响:
l
气压升高,气体对Au原子的散射作用增强,沉积速率下降,Au原子有足够的时间结晶,晶粒尺寸变大。
l
同时,Ar+离子增多,溅射率和沉积速率增加,晶粒尺寸响应减小。

n
晶粒尺寸随衬底温度的变化:
|
T/ ℃
|
D/nm
|
B/(º)
|
6#
|
常温
|
7.0446
|
1.1941
|
10#
|
135
|
12.0294
|
0.6988
|
2#
|
200
|
12.1671
|
0.6910
|
12#
|
300
|
12.7804
|
0.6575
|
n
当衬底温度升高时,Au原子打在基片上后,过剩能量增多,Au原子在基片表面容易移动到平衡的位置,有利于Au的取向生长,晶粒尺寸变大。

Conclusion
现将本实验的结论总结如下:
n
在几纳米和十几纳米的量级晶粒大小与薄膜厚度相当,随厚度几乎呈线性变化。
n
在Ar气压较低的情况下,Ar原子的散射作用占主导地位,晶粒大小随气压升高而增大,Ar气压较低的情况下,Ar+的对靶材的轰击作用占主导地位,晶粒大小随气压升高而减小。
n
晶粒大小随衬底温度的升高而逐渐升高
Reference
S.Ducourtieux,V.A.Podolskiy,Phys.
Rev . 2001,64(16)
M.Adamik,P.B.Barna,I.Tomov,
Thin Solid Film. 2000,33(38)
Neerinck,A.E.M.De Veirman
etc, Thin Solid Film. 1996,136(141)
G.Horowitz,M.E.Hajlaoui,Synthetic
Metals.2001,185(189)
倪星元,吴永刚,吴广明,张慧琴,金哲明。材料研究学报,1999、13(3)
L.Eckertova著,王广阳等译,薄膜物理学。北京:科学出版社,1986,P69-P71
The end
Thank you!!!