图 1 :     塞曼效应实验装置

 

图 2 :     F-P标准具

标准具由平行放置的两块平面板组成的，在两板相对的平面上镀薄银膜和其他有较高反射系数的薄膜。 两平行的镀银平面的间隔是由某些热膨胀系数很小的材料做成的环固定起来的。实际中两块平板不可能一直绝对平行，所以实验中还需要用3个旋钮来调平。

 

图 3 :     汞灯

本实验用汞辉光放电灯，电源用交流220V通过自耦变压器接到霓虹灯变压器上，由霓虹灯变压器点燃就电管。自耦变压器用来调节放电管的电流强度。

电磁铁用30V/5A直流稳压电源供电。电流与磁场的关系可用毫特斯拉计进行测量。磁场强度可达1T以上。

 

图 4 :     棱镜摄谱仪

头部为暗箱，用来拍摄干涉花纹的谱片。也可以为望远镜，借助它观察干涉花纹。

 

图 5 :     毫特斯拉计

 

图 6 :     滤波片

透射干涉滤光片应根据实验中所观察的波长选择，实验中通过滤光片得到Hg-546.1nm的谱线

 

图 7 :     1/4波片

给圆偏振光以附加的π/2位相差，使圆偏振光变成线偏振光，波片上箭头指示的方向为慢轴方向，慢轴方向表示位相落后π/2。 若把坐标轴取在波片上，y轴方向与波片慢轴重合。对右旋圆偏振光而言（即顺时针旋转的圆偏振光），y方向的位相超前π/2， 通过1/4波片后，y轴对x轴的位相差为零。圆偏振光变成线偏振光后，线偏振光的振动方向在坐标系的Ⅰ、Ⅲ象限，相对波片慢轴右旋民45°， 用检偏器即可观察到。对左旋圆偏振光而言（逆时针旋转的圆偏振光），相当y轴方向的位相落后π/2，通过1/4波片后，y轴的位相落后π， 圆偏振光也变成线偏振光，线偏振光的振动方向在坐标的Ⅱ，Ⅳ象限，相对波片慢轴右旋了45°。

 

图 8 :     [线]偏振片

在垂直磁场方向观察时用以鉴别π成分和σ成分；在沿磁场方向观察时与1/4波片一起，用以鉴别左旋或右旋圆偏振光

 

图 9 :     [凸]透镜

仪器中有数个透镜，依照功能区分为
a)聚焦镜：使通过标准具的光强增加
b)成像透镜（组）：使F—P标准具的干涉花样成像在暗箱的焦平面上