图 1 :     X射线衍射实验仪器

 

图 2 :     X射线仪

该仪器的X光是由电子在高压作用下轰击钼靶而产生的，当X光射入原子有序排列的晶体时，会发生类似于可见光入射到光栅时的衍射现象，利用这一特性测量并绘出X射线通过NaCL及LiF的布拉格衍射曲线，还可观察到X光的透射像，测量X光的吸收与材料厚度及材料原子序数的关系。

 

图 3 :     X光管室

X光管室（内有Mo阳极，在高压作用下发射X射线）

热电偶列阵，测量温度。

 

图 4 :     实验区

左为准直器和锆滤片，中间为旋转靶台，上面放样品，右上为测角器和GM记数管

有关于GM记数管的知识，请参考"G-M计数管特性的研究"

 

图 5 :     旋转靶台

 

图 6 :     计算机及软件系统

屏幕上显示的是：LiF的X射线特征谱