图 1 :     X射线衍射实验系统

布拉格公式：λ=2dsinθ
λ:X射线波长，θ：入射x射线与样品表面夹角，d：晶体面间距。
X光管产生的特征X射线经准直狭缝以θ角入射到样品表面，其衍射光线由放在与入射x射线成2θ角的探测器测量（强度I）。θ-2θ角可由测角仪连续改变（扫描），测出相应I-θ曲线，从而获得物质结构信息。[参考] X射线衍射仪的光学原理图

 

图 2 :     X射线衍射仪的光学原理图

F：X光源灯丝，S1,S2：索拉狭缝，S：样品，C：探测器，D：测角仪

 

图 3 :     X射线源

 

图 4 :     测角仪

 

图 5 :     前后索拉狭缝及样品台

 

图 6 :     X射线荧光实验系统

X射线照射在样品上，样品的原子核外内层电子吸收能量，形成光电子，其留下的空穴由高层电子填充，产生能级间的跃迁，并以光子形式释放出多余的能量，即x射线荧光。X射线荧光只与样品元素相关，可用于分析样品元素。

 

图 7 :     3D微调整台

 

图 8 :     样品架及准直光阑台

 

图 9 :     探测器