物理实验课程 〉〉 半导体电性能测试
首页 网站地图 使用说明 更新日志 联系我们
半导体电性能测试
问题交流
设计性内容
n 变温霍尔测量
n 调节精密温度自动控制器,大约每隔10℃测量一组霍尔效应的数据,并测量不加磁场时样品的电阻率。 利用以上数据判定样品的导电类型,求出样品的电阻率、霍尔系数、载流子浓度、霍尔迁移率以及它们与温度的关系.这里所使用的温度范围为77-400 K,如果温度再低一些,或更高一些,则通过低温杂质电导区和高温本征激发的霍尔变温测量,可分别求出样品的杂质电离能、禁带宽度以及材料中杂质的补偿度.
<完>
中国科学技术大学 2003 by USTC